合金分析儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，主要由X光管、探測器、CPU以及存儲(chǔ)器組成由于它具有便攜、、準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)使其在質(zhì)量控制、材料分類、合金鑒別、事故調(diào)查等現(xiàn)場有著廣泛的應(yīng)用。 合金分析儀主要源于光譜的發(fā)明。1704年牛頓首先發(fā)現(xiàn)光可以分解成為光譜。他發(fā)現(xiàn)太陽光束通過暗房鎧窗上的圓孔，入射到玻璃棱鏡后，會(huì)在墻壁上產(chǎn)生彩虹圖形。于是，牛頓根據(jù)他創(chuàng)造的光的微粒說理論解釋了這種現(xiàn)象，但是他沒有詳細(xì)地研究太陽光譜。直到后來夫瑯禾費(fèi)給每個(gè)光譜都做上記號(hào)，光譜理論才算真正成立。光譜的成立，促使很多研究者來研究這項(xiàng)新的發(fā)現(xiàn)，于是光譜分析儀也相應(yīng)產(chǎn)生了，起初的光譜分析儀主要用于對光譜的分析定性和實(shí)驗(yàn)室研究。隨著光譜理論的不斷完善和運(yùn)用的廣泛，普通的分析儀已經(jīng)無法滿足人們的要求，于是合金分析儀誕生了，讓人們更加方便的研究物質(zhì)光線。
現(xiàn)在 合金分析儀已經(jīng)成為當(dāng)下的分析儀器，它匯合了光譜儀器的優(yōu)點(diǎn)，同時(shí)又具有便于攜帶等新的特點(diǎn)，所以成為主流儀器
合金分析儀 是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素， 同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長（λ）能量（E）確定具體元素，而通過測量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。XRF度普術(shù)就能測定物質(zhì)的元素構(gòu)成。
每一個(gè)原子都有自己固定數(shù)量的電子（負(fù)電微粒）運(yùn)行在核子周圍的軌道上。而且其電子的數(shù)量等同于核子中的質(zhì)子（正電微粒）數(shù)量。從元素周期表中的原子數(shù)可以得知質(zhì)子的數(shù)目。每一個(gè)原子數(shù)都對應(yīng)固定的元素名稱。能量色散X螢光與波長色散X螢光光譜分析技術(shù)特別研究與應(yīng)用了zui里層三個(gè)電子軌道即K，L，M上的活動(dòng)情況，其中K軌道zui為接近核子，每個(gè)電子軌道則對應(yīng)某元素一個(gè)個(gè)特定的能量層。
在XRF分析法中，從X光發(fā)射管里放射出來的高能初級(jí)射線光子會(huì)撞擊樣本元素。這些初級(jí)光子含有足夠的能量可以將zui里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時(shí)，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會(huì)尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會(huì)進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層的過程中，它們會(huì)釋放出能量，稱之為二次X射線光子。而整個(gè)過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。特定元素在一定時(shí)間內(nèi)所放射出來的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時(shí)光子密度的分布情況。
